4.局部放電試驗回路和測量系統(tǒng)
4.1 一般要求
本條敘述了幾種用于測量局放參量的基本試驗回路和測量系統(tǒng)，并介紹了這些回路和系統(tǒng)的工作 原理。試驗回路和測量系統(tǒng)應(yīng)按第5章規(guī)定進行校準，并應(yīng)滿足第7章中的規(guī)定。有關(guān)技術(shù)委員會還 可以推薦用于特殊試品的特殊試驗回路。只要可能，建議有關(guān)技術(shù)委員會用視在電荷作為被測參量，但 對特殊情況也可以使用別的參量。
如果有關(guān)技術(shù)委員會未作規(guī)定，則4. 2條所述的任何試驗回路以及4.3條中所規(guī)定的任何測量系 統(tǒng)均可使用。但任何情況下均應(yīng)記錄所釆用測量系統(tǒng)的最主要特性見第3章）。對于直流 電壓試驗,參見第11章。
4.2交流電壓試驗回路
用于局放測量的大多數(shù)回路可以由圖la?圖Id所示的基本回路演變而來。圖2和圖3表示這些 回路的一些變化，每個回路的組成主要有：
a） 試品，通常被認為是一個電容器Ca（參見附錄C）；
b） 耦合電容器Ck,（應(yīng)設(shè)計為低電感電容），或第二個試品Ca1（類似于試品Ca）。在規(guī)定的試驗電 壓下Ck或Ca1均應(yīng)具有足夠低的局放水平，以便對規(guī)定的局放值進行測量。如果一個測量系統(tǒng)能夠區(qū) 分并分別測量來自試品和耦合電容器中的局放，那么允許Ck或Ga1具有較高的局放水平；
c） 帶輸入阻抗的測量系統(tǒng)（對平衡回路，還需要第二個輸入阻抗）；
d） 背景噪聲足夠低的高壓電源（參見第9章和第10章），以便在規(guī)定試驗電壓下對規(guī)定的局放值 進行測量；
e） 背景噪聲足夠低的高壓連接（參見第9章和第10章），以便在規(guī)定試驗電壓下對規(guī)定的局放值 進行測量；
f） 有時在高壓端接入一個阻抗或者濾波器，以減小來自供電電源的背景噪聲。
注：對于圖1?圖3所示的局放基本試驗回路，其測量系統(tǒng)的耦合裝置也可放在高壓端，即耦合裝置與G或C*交 換位置;這時可用光纜來連接耦合裝置和測量儀器，如圖la所示。
不同試驗回路的其他情況及特性在附錄B和G中考慮。
